ESD和闩锁测试
WE KNOW HOW™
EAG Laboratories是ESD测试(静电放电)和闩锁测试的行业领导者。 我们经验丰富的工程团队利用其行业领先的知识和多年的实际经验,结合最新的半导体技术,电路设计和器件物理,来优化客户的ESD和闩锁结果。 选择EAG时,您将与ESD测试和闩锁测试领域的知名专家合作。 我们致力于为客户提供最新的测试方法,以及对测试数据的技术解释和对结果的准确评估。 此外,EAG符合ITAR的测试实验室可确保为我们的航空航天和国防客户提供保护。
我们的内部PCB团队还可以快速创建自定义ESD灯具,以帮助您加快实现结果的速度。 此外,EAG的ESD团队是更大的服务组织的一部分,该组织为客户提供随时访问世界一流水平的机会。 故障分析,环境/ 可靠性测试, FIB电路编辑, 电子显微镜 和 ATE测试服务。
有了六台Thermo Fisher Scientific Orion CDM机器,EAG实验室拥有最多容量和最新设备,用于带电设备模型测试。 我们的ISO 9001:2015认证的全方位服务实验室还提供故障分析,先进的显微镜检查和材料测试,以确定ESD故障的根本原因。
HBM, MM, CDM 测验
适用的HBM规格
- JEDEC:JS-001-2017和JESD22-A114(由JS-001-2017取代)
- 国防部:MIL-STD-883,方法3015.7
- 汽车电子委员会:AEC-Q100-002和AEC-Q101-001(基于JS-001-2017)
- ESD协会:ESD STM 5.1-1998(由JS-001-2017取代)
适用的CDM规格
- JEDEC:JS-002-2018和JESD22-C101(由JS-002-2018取代)
- 汽车电子委员会:AEC-Q100-011和AEC-Q101-005(基于JS-002-2018)
- ESD协会:ESDA STM 5.3.1-1999(由JS-002-2018取代)
适用的MM规格
- JEDEC:JESD22-A115(由JEDEC淘汰,但仍然可用)
- 汽车电子委员会:AEC-Q100-003和AEC-Q101-002(由AEC淘汰,但仍然可用)
- ESD协会:ESD STM 5.2-1999(由ESDA淘汰,但仍然可用)
闩锁测试
虽然闩锁测试是在与ESD测试相同的自动测试仪上进行的,但测试却截然不同。 ESD测试不是在偏见下进行的。 在DUT供电的情况下执行闩锁测试,并且将信号施加到器件以将其置于稳定的低电流配置中。 专用的ESD / LU工作表用于设置自动测试仪,例如Thermo Scientific Mk2或Mk4。 每个测试器通道都具有独特的能力,可以编程为电源,信号引脚或矢量引脚。
IC闩锁测试的目标是触发和监控潜在的闩锁事件,其中应力脉冲激活CMOS或Bi-CMOS工艺技术中的寄生晶体管结构。 闩锁测试基本上是关于芯片的物理布局,电路块相对于彼此的位置,以及如何从半导体材料中的物理元件中去除意外的电荷。
根据JEDEC闩锁规范的当前版本进行闩锁测试,但也可以根据JESD78的先前版本进行测试。 测试可在客户指定的环境温度下进行,温度范围为25°C至125°C。 由于变量太多,因此根据工作说明,创建工作测试的估计工程时间,执行测试的机器时间以及客户请求的报告,逐个引用闩锁测试。
适用的LU规格
- JEDEC:JESD78E
- 汽车电子委员会:AEC-Q100-004(基于JESD78E)
传输线脉冲(TLP)测试
传输线脉冲测试或TLP测试是一种用于半导体表征静电放电(ESD)保护结构的方法。 在传输线脉冲测试中,高电流脉冲通过指定长度的同轴电缆以较高的电平依次施加到被测引脚(PUT)。 施加的脉冲具有代表人体模型(HBM)ESD / LU工作表请求事件的电流幅度和持续时间(对于甚快TLP或VF-TLP,则代表充电设备模型– CDM –事件)。 评估入射和反射脉冲,并绘制出电压电流(VI)曲线,该曲线描述了ESD保护结构对施加的TLP应力的响应。 传输线脉冲测试是独特的,因为电流脉冲的数量级可以为安培,而TLP测试结果可以显示ESD保护结构的导通,骤回和保持特性。
传输线脉冲测试在两个非常重要的方面很有用。 首先,TLP可用于表征测试芯片上的输入/输出(I / O)焊盘单元,以用于新工艺技术和知识产权(IP)。 TLP在开发仿真参数以及对创新焊盘单元设计的不同ESD保护方案的相对优点进行定性比较时非常有用。 其次,TLP可以用作电气故障分析工具,通常与传统的基于标准的组件ESD测试结合使用。
TLP测试根据ESDA TLP测试方法ESDA SP5.5-2003完成。 TLP根据所要求的工作范围逐个引用; 估计执行测试的工程时间,以及客户要求的报告。
适用的TLP规格
- ESDA SP5.5-2003(ESD协会)